Systém pro mechanickou předpřípravu vzorků Leica TXP


Lokace:
Vysoké učení technické v Brně

Výzkumná skupina:
CF: CEITEC Nano


Zařízení určené jednak pro mechanickou předpřípravu vzorků pro elektronovou ev. světelnou mikroskopii před iontovým leštěním pomocí přístroje Leica TIC3X. Zařízení umožňuje odebrat nadbytečný objem vzorku mimo oblast zájmu bez nutnosti opakované justace preparátu na nosiči. Materiál se odstraňuje mechanickým frézováním, broušením nebo leštěním se submikronovou přesností s možností polohování vzorku ve čtyřech osách. Lze zpracovávat vzorky justované na standardním „pin stub“ nosiči vzorků pro rastrovací elektronové mikroskopy.
Zařízení je dále schopno opracovávat také tenké fólie o průměru 3 a 2,3 mm pro transmisní elektronovou mikroskopii.