Ultramikrotom Leica EM UC7 pro přípravu vzorků pro elektronovou mikroskopii (SEM, TEM) a pro AFM


Ultramikrotom Leica EM UC7 pro přípravu vzorků pro elektronovou mikroskopii (SEM, TEM) a pro AFM

Lokace:
Vysoké učení technické v Brně

Výzkumná skupina:
Pokročilé polymerní materiály a kompozity - Josef Jančář


Ultramikrotom Leica EM UC7 pro přípravu vzorků pro elektronovou mikroskopii (SEM, TEM) a pro AFM

Description

• Equipment for preparation of ultrathin sections intended for the observation using light microscopy (LM), electron microscopy (SEM, TEM) and atomic force microscopy (AFM).

Applications

• Preparation of samples with thickness up to 100nm at room temperature
• Cutting samples using gravitation forces (non-motor slicing)